Microtrac S3500SI圖像激光粒度分析儀

產(chǎn)品介紹：Microtrac S3500SI圖像激光粒度分析儀一臺(tái)儀器，具備兩種分析技術(shù)，即采用靜態(tài)激光衍射技術(shù)和圖像分析技術(shù)同時(shí)測(cè)量樣品。
產(chǎn)品型號(hào)：
更新時(shí)間：2024-07-18
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
產(chǎn)品品牌：Bruker/布魯克
產(chǎn)品廠地：廣州市
訪問次數(shù)：2487
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產(chǎn)品介紹

MicrotracS3500SI圖像激光粒度分析儀

技術(shù)特點(diǎn)：

一臺(tái)儀器，具備兩種分析技術(shù)，即采用靜態(tài)激光衍射技術(shù)和圖像分析技術(shù)同時(shí)測(cè)量樣品。

納米粒度儀

MicrotracS3500SI圖像激光粒度分析儀

技術(shù)指標(biāo)：

測(cè)量范圍：0.01-2800um（有多種測(cè)量范圍可選擇）

圖像測(cè)量范圍：0.75-2000um

光源：

激光衍射：	三束固體激光器
動(dòng)態(tài)圖像分析：	高性能頻閃LED

分析時(shí)間：

激光衍射：	10-30S
動(dòng)態(tài)圖像分析：	1 Minute

檢測(cè)系統(tǒng)：

激光衍射：	接受角度： 0.02-163°
	檢測(cè)器：151個(gè)檢測(cè)單元，以對(duì)數(shù)方式優(yōu)化排列的高靈敏硅光電二極管
	信號(hào)采集：無(wú)需掃描，實(shí)時(shí)接受全量程散射光信號(hào)
動(dòng)態(tài)圖像分析：	像素5M，圖像分辨率2456×2058,15圖片/秒(可選配高速相機(jī))

操作軟件：提供強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理能力，包括圖形，數(shù)據(jù)輸出/輸入，個(gè)性化輸出報(bào)告及各種文字處理功能，數(shù)據(jù)的完整性符合21CFRPART11安全要求。

納米粒度儀是用于測(cè)量納米顆粒尺寸的儀器，其在納米電子器件的制備中起著至關(guān)重要的作用。納米電子器件的性能和可靠性在很大程度上取決于納米顆粒的尺寸和分布。

一、粒度控制

通過(guò)提供準(zhǔn)確的粒徑測(cè)量，幫助科研人員和工程師嚴(yán)格控制納米顆粒的尺寸。這對(duì)于納米電子器件的性能至關(guān)重要，因?yàn)榱街苯佑绊戨娮觽鬏斝?、催化活性以及材料的磁性等性質(zhì)。

二、工藝優(yōu)化

在納米電子器件的制備過(guò)程中，粒度儀可以幫助研究人員評(píng)估不同合成方法和條件對(duì)納米顆粒尺寸的影響。通過(guò)這些信息，研究人員可以優(yōu)化合成工藝，以獲得更均勻的粒度分布和期望的顆粒尺寸。